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镀铝膜的厚度均匀性测量

来源:林上科技   发布时间:2013/2/2 11:31:42  浏览:
由于真空镀铝薄膜上的镀铝层非常薄,因此不能用常规的测厚仪器检测其厚度,目前检测镀铝膜层厚度均匀性的专用仪器是光密度仪,光密度仪原理是通过对薄膜透光率光学性能进行检测.

  由于真空镀铝薄膜上的镀铝层非常薄,因此不能用常规的测厚仪器检测其厚度,目前测量镀铝膜的厚度均匀性的专用仪器是光密度仪光密度仪原理是光密度法通过对薄膜透光率光学性能进行检测。
  镀铝膜的厚度均匀性测量方法:
  1、高倍电子显微镜直接测量,精确度为10E-10米,也就是0.1纳米(1米=1000mm,1mm=1000微米,1微米=1000纳米,1纳米=10埃米)。镀铝层的厚度一般为30埃米至800埃米之间。这个方法对镀铝层厚度方向上的断面取样手法要求极高,其精确度影响较大,但是所得数据是最为直接的物理测量。
  2、方块电阻法测量,我国有国家标准:GB/T 15717-1995 《真空金属镀层厚度测试方法电阻法》。此标准中有详细的方法描述,你有兴趣可以下载下来看看。这是一种模拟检测手段,有一定误差,尤其是对半透明镀铝膜的检测,简直无法进行。
  3、用光密度计进行检测:目前这种仪器在物理学的原理方面是一样的,但是奇怪的是连美国都有两家公司生产的光密度计居然差别很大,一种是TOBIAS牌的,另一种是爱色丽(X-rite)生产的系列仪器。国内的光密度计就是林上科技的LS117光密度计;它是用光学透视的方法来换算镀铝层的厚度,也是一种模拟检测方法。这种仪器可以适用于半透明镀铝膜,也能适用于不透明镀铝膜。

光密度仪

  4、用光密度仪进行检测,仪器很多,但全球标准都不统一,也是一种模拟检测方法,适用于半透明镀铝膜的检测。镀铝膜使用的检测仪还是选择光密度仪最为合适。

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